導(dǎo)讀

箱式老化機(jī)是高溫環(huán)境測(cè)試的核心設(shè)備，選型需結(jié)合溫度均勻性、控制精度、安全聯(lián)鎖等關(guān)鍵參數(shù)，優(yōu)先選擇符合IEC/GB標(biāo)準(zhǔn)的廠商。采購(gòu)需嚴(yán)格遵循技術(shù)協(xié)議、FAT/SAT驗(yàn)收流程，避免因參數(shù)虛標(biāo)或服務(wù)缺失導(dǎo)致測(cè)試失效。

目錄

1. 快速答案卡片
2. 箱式老化機(jī)技術(shù)解析
3. 選型決策流程與參數(shù)表
4. 采購(gòu)全流程Checklist
5. 選型對(duì)比表
6. 常見(jiàn)故障與維護(hù)
7. FAQ
8. 外部參考

快速答案卡片

箱式老化機(jī)技術(shù)解析

試驗(yàn)?zāi)康呐c失效機(jī)理

箱式老化機(jī)通過(guò)模擬高溫環(huán)境（通常40℃–300℃），加速材料/產(chǎn)品的熱老化過(guò)程，檢測(cè)其耐熱性、絕緣性能及結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性。典型失效模式包括：

• 塑料件：玻璃化轉(zhuǎn)變溫度下降導(dǎo)致脆化；
• 電子元件：焊點(diǎn)蠕變引發(fā)開(kāi)路；
• 電池：電解液分解導(dǎo)致容量衰減。

關(guān)鍵參數(shù)與工況

適用標(biāo)準(zhǔn)與邊界

• IEC 60068-2-2：高溫試驗(yàn)通用導(dǎo)則，明確溫度波動(dòng)度≤±2℃；
• GB/T ：電子電工產(chǎn)品高溫試驗(yàn)方法，要求試樣間距≥50mm；
• MIL-STD-810G：軍用設(shè)備高溫存儲(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)，強(qiáng)制安全聯(lián)鎖功能。

選型決策流程與參數(shù)表

選型四步法

1. 需求確認(rèn)：明確最高溫度、試樣尺寸（如PCB板1200mm×800mm）、測(cè)試周期；
2. 參數(shù)匹配：優(yōu)先選擇溫度均勻性±1℃、控制精度± ℃的設(shè)備；
3. 廠商評(píng)估：要求提供第三方計(jì)量報(bào)告（如CNAS認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室出具）；
4. 成本驗(yàn)證：對(duì)比單位容積價(jià)格（如100L設(shè)備單價(jià)÷容積），警惕低價(jià)陷阱。

參數(shù)解釋表

采購(gòu)全流程Checklist

選型對(duì)比表

常見(jiàn)故障與維護(hù)

典型故障

• 溫度超調(diào)：PID參數(shù)未優(yōu)化，需重新整定；
• 傳感器漂移：每年校準(zhǔn)一次，誤差＞±1℃需更換；
• 加熱管斷路：用萬(wàn)用表測(cè)阻值，無(wú)窮大則更換。

維護(hù)清單

FAQ

Q1：箱式老化機(jī)能否用于濕熱試驗(yàn)？
A：部分型號(hào)支持濕度控制（如泰科HT-500），但需確認(rèn)濕度范圍是否覆蓋測(cè)試需求（如20%–98%RH）。單獨(dú)高溫試驗(yàn)優(yōu)先選擇無(wú)濕度功能機(jī)型以降低成本。

Q2：如何驗(yàn)證溫度均勻性？
A：在空載狀態(tài)下，將9個(gè)溫度傳感器均勻布置于工作區(qū)（上/中/下三層各3個(gè)），運(yùn)行至設(shè)定溫度后記錄1h數(shù)據(jù)，計(jì)算最大溫差。

Q3：采購(gòu)時(shí)如何避免參數(shù)虛標(biāo)？
A：要求廠商提供第三方計(jì)量報(bào)告（如CNAS證書(shū)），并在技術(shù)協(xié)議中明確違約條款（如溫度均勻性不達(dá)標(biāo)需退貨）。

Q4：設(shè)備壽命一般多久？
A：核心部件（如加熱管、風(fēng)機(jī)）壽命約5–8年，日常維護(hù)可延長(zhǎng)至10年。建議每3年進(jìn)行整機(jī)評(píng)估。

Q5：能否改造舊設(shè)備提升精度？
A：可升級(jí)控制系統(tǒng)（如從PID改為模糊控制），但加熱管與傳感器老化后改造價(jià)值低，建議直接更換。

外部參考

• 中國(guó)電器科學(xué)研究院：《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》欄目
• IEC國(guó)際電工委員會(huì)：IEC 60068系列標(biāo)準(zhǔn)查詢(xún)