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隆安
2026-01-07 09:48:16
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價(jià)格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價(jià)更優(yōu)！ 馬上咨詢
錫山區(qū)多功能試驗(yàn)箱價(jià)格受溫度范圍、容積、控制精度等參數(shù)影響，主流型號(hào)價(jià)格區(qū)間為8萬(wàn)-50萬(wàn)元。選型需結(jié)合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)（如GB/T 2423、IEC 60068）、負(fù)載容量及安全聯(lián)鎖功能，優(yōu)先選擇通過(guò)CNAS認(rèn)證的廠商。采購(gòu)流程應(yīng)包含技術(shù)協(xié)議確認(rèn)、FAT/SAT測(cè)試及計(jì)量校準(zhǔn)，避免低價(jià)陷阱和虛假參數(shù)宣傳。
| 核心參數(shù) | 參考值 |
|---|---|
| 溫度范圍 | -70℃~+300℃ |
| 濕度范圍 | 10%~98%RH |
| 容積選項(xiàng) | 100L~2000L |
| 控制精度 | ±0.5℃（溫度）、±2%RH（濕度） |
| 價(jià)格區(qū)間 | 8萬(wàn)~50萬(wàn)元 |
| 推薦標(biāo)準(zhǔn) | GB/T 2423、IEC 60068、MIL-STD-810 |
多功能試驗(yàn)箱主要用于高溫老化、溫濕度循環(huán)、快速溫變等環(huán)境模擬測(cè)試，典型應(yīng)用場(chǎng)景包括：
失效機(jī)理：高溫導(dǎo)致材料氧化、焊點(diǎn)虛焊；濕度引發(fā)金屬腐蝕、絕緣性能下降；快速溫變產(chǎn)生熱應(yīng)力裂紋。
| 參數(shù) | 定義 | 選型建議 |
|---|---|---|
| 溫度范圍 | 設(shè)備可達(dá)到的最低/最高溫度 | 根據(jù)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)選擇，如汽車電子需-40℃~+150℃ |
| 升溫/降溫速率 | 單位時(shí)間溫度變化量 | 快速溫變測(cè)試需≥5℃/min |
| 負(fù)載容量 | 設(shè)備可容納的最大試樣尺寸/重量 | 需預(yù)留20%余量，避免熱風(fēng)循環(huán)受阻 |
| 控制方式 | PID控制/SSR固態(tài)繼電器 | 高精度測(cè)試選PID+鉑電阻傳感器 |
| 安全聯(lián)鎖 | 超溫保護(hù)、漏電保護(hù)、門(mén)鎖聯(lián)鎖 | 必須符合GB 4793.1-2007安全標(biāo)準(zhǔn) |
| 型號(hào) | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積(L) | 控制精度 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 | 價(jià)格(萬(wàn)元) |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| LX-100 | -40℃~+150℃ | 20%~98%RH | 100 | ±1℃ | GB/T 2423 | RS485通信 | 8~12 |
| LX-500 | -70℃~+180℃ | 10%~98%RH | 500 | ±0.5℃ | IEC 60068 | 觸摸屏+數(shù)據(jù)記錄 | 18~25 |
| LX-2000 | -70℃~+300℃ | 5%~98%RH | 2000 | ±0.3℃ | MIL-STD-810 | 多段程序控制 | 35~50 |
致：XX公司
請(qǐng)?zhí)峁┮韵滦畔ⅲ?1. 設(shè)備型號(hào)及技術(shù)參數(shù)表
2. 溫度均勻性測(cè)試報(bào)告（依據(jù)GB/T 5170.2）
3. 保修期及備件庫(kù)存清單
4. FAT/SAT測(cè)試流程及驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)
| 故障現(xiàn)象 | 可能原因 | 解決方案 |
|---|---|---|
| 升溫緩慢 | 加熱管老化、風(fēng)機(jī)故障 | 更換加熱管，清理風(fēng)道 |
| 濕度波動(dòng)大 | 加濕器結(jié)垢、傳感器偏差 | 清洗加濕桶，校準(zhǔn)濕度探頭 |
| 超溫報(bào)警 | 控制板故障、安全聯(lián)鎖失效 | 更換控制板，檢查門(mén)鎖開(kāi)關(guān) |
維護(hù)周期：
試樣總體積不應(yīng)超過(guò)設(shè)備容積的70%，例如測(cè)試20個(gè)300mm×300mm的PCB板，需選擇≥500L的設(shè)備。
根據(jù)GJB 9001C標(biāo)準(zhǔn)，電子元器件需完成1000小時(shí)@125℃測(cè)試，但實(shí)際周期可通過(guò)加速老化公式（如Arrhenius模型）縮短至200小時(shí)。
低價(jià)設(shè)備可能采用國(guó)產(chǎn)控制器（精度±2℃）、普通加熱管（壽命5000小時(shí)），而高端設(shè)備使用進(jìn)口PLC（精度±0.3℃）、紅外加熱管（壽命20000小時(shí)）。
若測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)包含振動(dòng)+溫濕度復(fù)合試驗(yàn)（如ISTA 3E），需選購(gòu)溫濕度振動(dòng)三綜合試驗(yàn)箱，價(jià)格比普通型號(hào)高40%~60%。
使用Fluke 9133干體爐（溫度）和Vaisala HM70濕度計(jì)（濕度）進(jìn)行比對(duì)測(cè)試，誤差超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)值2倍時(shí)應(yīng)要求廠商整改。
因老化試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請(qǐng)您向我說(shuō)明測(cè)試要求，我們將為您1對(duì)1定制技術(shù)方案
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