麗江高溫老化房報(bào)價(jià)-麗江老化房報(bào)價(jià)全解析

隆安
2026-01-05 15:42:11
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內(nèi)容摘要：麗江高溫老化房報(bào)價(jià)受溫度范圍、容積、控制精度及附加功能影響，典型價(jià)格區(qū)間為8萬-50萬元。選型需結(jié)合負(fù)載類型、試樣尺寸及安全標(biāo)準(zhǔn)，建議通過技術(shù)協(xié)議明確參數(shù)，優(yōu)先選擇符合G...

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麗江高溫老化房報(bào)價(jià)受溫度范圍、容積、控制精度及附加功能影響，典型價(jià)格區(qū)間為8萬-50萬元。選型需結(jié)合負(fù)載類型、試樣尺寸及安全標(biāo)準(zhǔn)，建議通過技術(shù)協(xié)議明確參數(shù)，優(yōu)先選擇符合GB/T 2423.2-2008標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)備，并關(guān)注廠商的FAT/SAT驗(yàn)收能力。

麗江高溫老化房快速報(bào)價(jià)參考

溫度范圍	容積（m3）	控制精度	典型報(bào)價(jià)（萬元）
50℃-150℃	2-5	±1℃	8-15
50℃-200℃	5-10	±0.5℃	18-30
50℃-300℃	10-20	±0.3℃	35-50

核心變量：溫度均勻性、負(fù)載容量、安全聯(lián)鎖功能（如超溫報(bào)警、急停裝置）對(duì)價(jià)格影響顯著，建議優(yōu)先明確測(cè)試需求后再詢價(jià)。

選型與參數(shù)決策流程

步驟1：明確測(cè)試需求

試樣類型：電子元件（PCB/芯片）、電池組、塑料件
負(fù)載容量：靜態(tài)負(fù)載（如10kg/m3）或動(dòng)態(tài)負(fù)載（如振動(dòng)臺(tái)耦合）
測(cè)試周期：連續(xù)運(yùn)行72小時(shí)或間歇循環(huán)

步驟2：關(guān)鍵參數(shù)匹配

參數(shù)	選型依據(jù)	失效風(fēng)險(xiǎn)
溫度波動(dòng)度	≤±0.5℃（精密電子）	參數(shù)漂移導(dǎo)致誤判
升溫速率	≥3℃/min（快速老化）	熱應(yīng)力不足
安全聯(lián)鎖	雙回路超溫保護(hù)	設(shè)備燒毀風(fēng)險(xiǎn)

步驟3：詢價(jià)模板

致[廠商名稱]：
我方需采購高溫老化房，要求如下：
1. 溫度范圍：__℃至__℃，均勻性≤__℃；
2. 試樣區(qū)尺寸：長(zhǎng)×寬×高=__m；
3. 符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.2-2008/IEC 60068-2-2；
4. 附加功能：數(shù)據(jù)記錄儀（采樣率≥1次/秒）、遠(yuǎn)程監(jiān)控接口。
請(qǐng)于3個(gè)工作日內(nèi)提供技術(shù)方案及報(bào)價(jià)。

技術(shù)參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)解析

核心標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.2-2008：高溫試驗(yàn)方法，規(guī)定溫度偏差≤±2℃（B類試驗(yàn)）
IEC 60068-2-2：國際電工委員會(huì)高溫測(cè)試規(guī)范，強(qiáng)調(diào)熱平衡時(shí)間（≥30分鐘）
ASTM D4332-14：包裝材料高溫老化測(cè)試，要求濕度控制（可選）

典型工況參數(shù)

參數(shù)	電子元件測(cè)試	電池組測(cè)試
溫度范圍	85℃-125℃	45℃-65℃
控制方式	PID伺服控制	分階段溫控
安全聯(lián)鎖	電壓監(jiān)測(cè)+超溫切斷	氣體泄漏檢測(cè)

主流型號(hào)對(duì)比表

型號(hào)	溫度范圍	濕度范圍	容積（m3）	控制精度	符合標(biāo)準(zhǔn)	附加特性
LH-100A	50-150℃	20%-95%RH	5	±1℃	GB/T 2423	USB數(shù)據(jù)導(dǎo)出
LH-200B	50-200℃	無	10	±0.5℃	IEC 60068	遠(yuǎn)程報(bào)警
LH-300C	50-300℃	無	20	±0.3℃	ASTM D4332	振動(dòng)臺(tái)耦合