transceiver高低溫試驗箱,精準模擬極端溫度環(huán)境

隆安
2025-12-22 08:54:51
930

內(nèi)容摘要：transceiver高低溫試驗箱是光模塊、5G基站等通信設(shè)備高溫老化測試的核心設(shè)備，選型需重點關(guān)注溫度范圍（-70℃~+180℃）、控制精度（±0.5℃）、負載能力及安...

老化房、試驗箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家

隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價更優(yōu)！馬上咨詢

transceiver高低溫試驗箱是光模塊、5G基站等通信設(shè)備高溫老化測試的核心設(shè)備，選型需重點關(guān)注溫度范圍（-70℃~+180℃）、控制精度（±0.5℃）、負載能力及安全聯(lián)鎖功能。采購時應(yīng)通過技術(shù)協(xié)議明確驗收標準，優(yōu)先選擇符合IEC 60068、GB/T 2423標準的廠商，避免因參數(shù)虛標或維護缺失導(dǎo)致測試失效。

快速答案卡片

核心參數(shù)	推薦值
溫度范圍	-70℃~+180℃（光模塊適用）
控制精度	±0.5℃（伺服控制）
負載能力	≥500W/m3（滿載測試）
安全聯(lián)鎖	超溫/過載/門鎖三重保護
符合標準	IEC 60068-2-1/2-2、GB/T 2423.1-2

試驗?zāi)康呐c典型工況

transceiver高低溫試驗箱用于模擬光模塊、5G基站等通信設(shè)備在極端溫度環(huán)境下的長期運行狀態(tài)，驗證其熱穩(wěn)定性、材料形變及電路可靠性。典型失效機理包括：

高溫導(dǎo)致焊點熔融（如BGA封裝虛焊）
低溫引發(fā)材料收縮（如光纖接口密封失效）
溫度循環(huán)加速金屬疲勞（如散熱片裂紋）

根據(jù)中國電子技術(shù)標準化研究院2025年報告，通信設(shè)備高溫老化測試需滿足以下工況：

測試階段	溫度（℃）	持續(xù)時間	負載條件
初始檢測	25±2	2h	無通電
高溫老化	85±2	96h	滿功率運行
低溫存儲	-40±2	24h	斷電狀態(tài)
溫度循環(huán)	-40~+85	10周期（1h/周期）	50%負載

關(guān)鍵參數(shù)與選型決策

參數(shù)解釋表

參數(shù)	定義	選型建議
溫度范圍	設(shè)備可達到的最低/最高溫度	光模塊需-40℃~+85℃，軍工級需-70℃~+150℃
控制精度	實際溫度與設(shè)定值的偏差	伺服控制優(yōu)于液壓控制，優(yōu)先選±0.5℃
負載能力	單位體積內(nèi)可承載的發(fā)熱量	滿載測試需≥500W/m3，避免局部過熱
安全聯(lián)鎖	超溫、過載、門鎖的聯(lián)動保護	必須具備三重保護，防止樣品損壞

選型決策流程

明確測試標準（如IEC 60068-2-1高溫試驗）
計算試樣尺寸（單板≤300mm×400mm）
確定負載功率（按500W/m3估算）
驗證安全功能（超溫報警、急停按鈕）
要求廠商提供第三方校準證書

詢價模板

致：XXX廠商
請?zhí)峁┮韵滦吞柕募夹g(shù)參數(shù)及報價：
1. 溫度范圍：-70℃~+180℃
2. 容積：500L
3. 控制精度：±0.5℃
4. 符合標準：IEC 60068、GB/T 2423
5. 附加功能：遠程監(jiān)控、數(shù)據(jù)記錄
6. 交貨期：30天內(nèi)
7. 質(zhì)保期：≥2年

主流型號橫評表

型號	溫度范圍（℃）	濕度范圍（%RH）	容積（L）	控制精度	符合標準	附加特性	價格（萬元）
ESPEC THS-1000	-70~+180	10~98	1000	±0.3	IEC 60068	遠程監(jiān)控	45~50
CSZ CH-150	-40~+150	20~95	150	±0.5	GB/T 2423	數(shù)據(jù)記錄	18~22
WEISS WT3-600	-60~+150	15~90	600	±0.4	MIL-STD-810	振動疊加	38~42

常見故障與維護要點

典型故障

故障現(xiàn)象	可能原因	解決方案
溫度波動＞±1℃	傳感器校準失效	重新校準并更換傳感器
升溫速率＜2℃/min	加熱管老化	檢查加熱管阻值并更換
門縫結(jié)霜	密封條破損	更換硅膠密封條