光照試驗箱商家-優(yōu)質光照試驗箱供應商

隆安
2025-12-18 08:50:20
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內容摘要：光照試驗箱是高溫老化環(huán)境測試的核心設備，選型需重點關注溫度范圍、光照強度、控制精度及安全聯(lián)鎖功能。推薦通過技術協(xié)議明確參數(shù)邊界，優(yōu)先選擇符合IEC 60068-2-5/G...

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光照試驗箱是高溫老化環(huán)境測試的核心設備，選型需重點關注溫度范圍、光照強度、控制精度及安全聯(lián)鎖功能。推薦通過技術協(xié)議明確參數(shù)邊界，優(yōu)先選擇符合IEC 60068-2-5/GB/T 2423.24標準的廠商，并遵循FAT/SAT驗收流程規(guī)避風險。

快速答案卡片

核心問題	答案
選型關鍵參數(shù)	溫度范圍（-70℃~+300℃）、光照強度（500~2000W/m2）、控制精度（±1℃）
推薦標準	IEC 60068-2-5、GB/T 2423.24、ASTM D4329
價格區(qū)間	5萬~50萬元（依容積與精度浮動）
避坑要點	拒絕無安全聯(lián)鎖功能的低價設備，優(yōu)先選擇提供FAT/SAT的廠商

選型決策流程

需求分析：明確試樣尺寸（如100mm×100mm）、負載類型（電子/材料）、測試周期（72h/168h）。

參數(shù)匹配：

參數(shù)	推薦值	失效邊界
溫度均勻性	≤2℃	＞5℃導致數(shù)據(jù)無效
光照波動率	≤5%	＞10%影響材料降解速率
安全聯(lián)鎖	超溫/過載自動斷電	無聯(lián)鎖可能引發(fā)火災

詢價模板：
“請?zhí)峁┓螴EC 60068-2-5標準的設備報價，容積≥0.5m3，溫度范圍-40℃~+150℃，光照強度1000W/m2，含F(xiàn)AT/SAT服務?！?

關鍵參數(shù)與技術標準

典型工況與失效機理

電子元器件：高溫+光照加速焊點氧化，導致接觸電阻上升（失效閾值：溫度＞125℃持續(xù)48h）。
高分子材料：UV光照引發(fā)鏈斷裂，黃變指數(shù)（ΔYI）＞5即判定失效。

核心參數(shù)表

參數(shù)	定義	推薦值
控制方式	伺服PID vs 液壓控制	優(yōu)先伺服（響應速度＜2s）
分辨率	溫度/光照最小調節(jié)步長	0.1℃/10W/m2
采樣率	數(shù)據(jù)記錄頻率	≥1次/秒

適用標準

IEC 60068-2-5：環(huán)境測試第2-5部分：太陽輻射試驗（適用于航天/汽車領域）。
GB/T 2423.24：模擬地面太陽輻射試驗（適用于消費電子）。

主流廠商對比表

廠商	溫度范圍	濕度范圍	容積選項	控制精度	附加特性
隆安老化	-70℃~+300℃	10%~98%RH	0.1~2m3	±0.5℃	獨立UV光源
上海XX	-40℃~+180℃	20%~95%RH	0.3~1.5m3	±1.5℃	觸摸屏控制
廣東YY	-20℃~+120℃	30%~85%RH	0.2~1m3	±2℃	無安全聯(lián)鎖

常見故障與維護

典型故障

溫度超調：PID參數(shù)設置錯誤或加熱管老化（解決方案：重新整定PID，更換加熱組件）。
光照不均：燈管排列缺陷或反光板污損（解決方案：調整燈管間距，清潔反光板）。

維護清單

項目	周期	標準
燈管更換	2000h	照度衰減＞20%時更換
傳感器校準	1年	符合JJG 874-2019

采購全流程Checklist

需求確認：明確測試標準（如IEC 60068-2-5）、試樣數(shù)量、預算范圍。
技術協(xié)議：約定參數(shù)邊界（如溫度波動率≤1℃）、驗收標準（如ΔYI≤3）。
FAT/SAT：
- FAT（工廠驗收）：驗證設備空載運行72h無故障。
- SAT（現(xiàn)場驗收）：模擬實際工況運行168h，數(shù)據(jù)符合協(xié)議要求。
計量認證：委托第三方機構（如CNAS實驗室）出具校準證書。