肖克利環(huán)境試驗箱是高溫老化測試的核心設備，選型需重點關注溫度范圍、控制精度、負載能力及安全聯(lián)鎖功能。工程師需結合GB/T 2423.2、IEC 60068等標準，通過技術協(xié)議、FAT/SAT驗收及定期校準確保設備可靠性。采購流程需覆蓋需求分析、技術協(xié)議簽訂、安裝調(diào)試及維保計劃，避免因參數(shù)虛標或維護缺失導致測試失效。

目錄

1. 快速答案卡片
2. 選型決策流程與技術參數(shù)
3. 典型工況與關鍵參數(shù)解析
4. 選型橫評表：肖克利VS競品
5. 故障排查與維護指南
6. 采購全流程Checklist
7. FAQ
8. 聲明

快速答案卡片

選型決策流程與技術參數(shù)

1. 需求分析四步法

1. 測試對象：電子元件（如PCB）、材料樣品（如塑料）、整機設備
2. 溫度范圍：常規(guī)老化（-20℃~+150℃），極端測試（+200℃~+300℃）
3. 負載要求：靜態(tài)負載（如芯片）≤20kg，動態(tài)負載（如電機）≥50kg
4. 控制方式：PID伺服控制（精度±0.3℃） vs 開關控制（精度±2℃）

2. 關鍵參數(shù)對照表

3. 詢價模板（示例）

致：XX廠商
需采購肖克利環(huán)境試驗箱1臺，要求：
- 溫度范圍：-40℃~+200℃
- 負載容量：30kg（均勻分布）
- 控制精度：±0.5℃
- 符合標準：GB/T 2423.2、IEC 60068-2-2
請?zhí)峁┘夹g方案、報價及FAT/SAT計劃。

典型工況與關鍵參數(shù)解析

1. 電子元件高溫老化

• 目的：加速金屬遷移、介質擊穿等失效模式
• 參數(shù)：溫度125℃±2℃，持續(xù)時間168h，負載5kg
• 標準：JESD22-A113（集成電路高溫壽命試驗）

2. 材料熱變形測試

• 目的：測定玻璃化轉變溫度（Tg）
• 參數(shù)：升溫速率5℃/min，載荷10N，應變測量精度0.1%
• 標準：ASTM D648（塑料熱變形溫度測試）

3. 軍工產(chǎn)品極端環(huán)境測試

• 目的：驗證-55℃~+175℃交變耐受性
• 參數(shù)：溫度波動±1℃，循環(huán)周期24h
• 標準：GJB 150.3A（軍用設備高溫試驗）

選型橫評表：肖克利VS競品

故障排查與維護指南

1. 常見故障及解決方案

2. 維護周期表

采購全流程Checklist

1. 需求確認：明確測試對象、溫度范圍、負載要求
2. 技術協(xié)議：約定控制精度、安全聯(lián)鎖、驗收標準
3. 報價對比：要求分項報價（設備費、運輸費、安裝費）
4. FAT驗收：在廠商工廠進行空載/滿載測試，記錄數(shù)據(jù)
5. SAT驗收：在用戶現(xiàn)場復現(xiàn)典型工況，驗證重復性
6. 計量認證：取得CMA/CNAS認可實驗室的校準證書
7. 維保計劃：簽訂至少2年原廠保修，明確備件供應周期

FAQ

Q1：如何判斷試驗箱溫度均勻性是否達標？

A：在空載狀態(tài)下，將9個溫度傳感器均勻布置于工作區(qū)（上中下三層各3點），運行至穩(wěn)定狀態(tài)后記錄數(shù)據(jù)。根據(jù)GB/T 5170.2，最大溫差應≤標稱均勻性值的1.5倍（如標稱2℃，實際≤3℃）。

Q2：高溫老化試驗是否需要持續(xù)通風？

A：需根據(jù)測試對象決定。電子元件測試建議每小時換氣3~6次以排除揮發(fā)物；材料測試可關閉通風以模擬密閉環(huán)境。肖克利XK系列支持風速0~5m/s可調(diào)。

Q3：設備報價差異大的核心原因是什么？

A：主要取決于控制精度（PID算法復雜度）、加熱元件材質（進口電阻絲壽命是國產(chǎn)的3倍）、安全聯(lián)鎖級數(shù)（三級報警成本增加40%）。

外部專業(yè)來源

全國工業(yè)機械電氣系統(tǒng)標準化技術委員會（SAC/TC 231）——環(huán)境試驗設備標準解讀欄目

聲明