目錄

1. 快速答案卡片
2. 采購(gòu)全流程Checklist
3. 技術(shù)參數(shù)與選型決策
4. 東莞廠商橫評(píng)表
5. 常見故障與維護(hù)
6. 驗(yàn)收與校準(zhǔn)清單
7. FAQ
8. 外部參考
9. 聲明

快速答案卡片

采購(gòu)全流程Checklist

1. 需求確認(rèn)：明確試樣尺寸（長(zhǎng)×寬×高）、負(fù)載重量、測(cè)試周期（如72h連續(xù)運(yùn)行）。
2. 技術(shù)協(xié)議：要求廠商提供溫度曲線圖、均勻性測(cè)試報(bào)告、安全認(rèn)證（如CE）。
3. 報(bào)價(jià)對(duì)比：關(guān)注設(shè)備壽命（≥10年）、耗材成本（加熱管更換周期）。
4. FAT測(cè)試：在廠商工廠驗(yàn)證溫度波動(dòng)、報(bào)警響應(yīng)時(shí)間（如超溫30s內(nèi)切斷加熱）。
5. SAT驗(yàn)收：現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試負(fù)載分布對(duì)均勻性的影響（如滿載時(shí)邊緣溫差≤3℃）。
6. 計(jì)量校準(zhǔn)：每年委托第三方機(jī)構(gòu)（如CNAS實(shí)驗(yàn)室）校準(zhǔn)溫度傳感器。

技術(shù)參數(shù)與選型決策

關(guān)鍵參數(shù)解釋

選型決策流程

1. 計(jì)算試樣總體積（含間隙），選擇容積≥1.2倍試樣體積的老化房。
2. 根據(jù)IEC 60068-2-2標(biāo)準(zhǔn)，確認(rèn)溫度穩(wěn)定性要求（如±1℃為高精度場(chǎng)景）。
3. 優(yōu)先選擇支持多段程序升溫的機(jī)型（如每段可設(shè)溫度、時(shí)間、斜率）。

東莞廠商橫評(píng)表

常見故障與維護(hù)

典型故障

• 溫度超調(diào)：PID參數(shù)設(shè)置不當(dāng)或加熱管老化，需重新整定參數(shù)并更換加熱元件。
• 傳感器失靈：鉑電阻探頭污染或斷線，清潔或更換傳感器后校準(zhǔn)。
• 循環(huán)風(fēng)機(jī)故障：軸承磨損導(dǎo)致轉(zhuǎn)速下降，影響溫度均勻性，需更換風(fēng)機(jī)。

維護(hù)周期

驗(yàn)收與校準(zhǔn)清單

1. 外觀檢查：確認(rèn)設(shè)備無(wú)變形、涂層均勻，門縫間隙≤3mm。
2. 空載測(cè)試：運(yùn)行至最高溫度，記錄24h內(nèi)溫度波動(dòng)（應(yīng)≤±1℃）。
3. 負(fù)載測(cè)試：放置試樣后驗(yàn)證均勻性（邊緣與中心溫差≤3℃）。
4. 安全功能：觸發(fā)超溫報(bào)警，確認(rèn)加熱電源在15s內(nèi)切斷。
5. 校準(zhǔn)證書：核對(duì)第三方機(jī)構(gòu)出具的校準(zhǔn)報(bào)告（含不確定度分析）。

FAQ

Q1：如何選擇適合電子元件測(cè)試的老化房？

電子元件需關(guān)注溫度梯度（≤±2℃）和靜電防護(hù)（ESD設(shè)計(jì)）。推薦選擇帶離子風(fēng)機(jī)的機(jī)型，并要求廠商提供EMC測(cè)試報(bào)告。

Q2：高溫老化房與恒溫恒濕箱的區(qū)別？

高溫老化房專注高溫環(huán)境模擬（無(wú)濕度控制），容積更大（≥2m3）；恒溫恒濕箱可調(diào)節(jié)溫濕度，但負(fù)載容量較小（通?！?.5m3）。

Q3：設(shè)備報(bào)價(jià)差異大的原因？

主要取決于加熱系統(tǒng)（紅外管 vs 電阻絲）、控制精度（±1℃ vs ±3℃）和安全設(shè)計(jì)（是否通過(guò)TUV認(rèn)證）。低價(jià)設(shè)備可能省略超溫保護(hù)或使用劣質(zhì)傳感器。

Q4：是否需要定制非標(biāo)機(jī)型？

若試樣尺寸超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型容積（如長(zhǎng)＞3m），或需模擬特殊工況（如快速溫變速率＞5℃/min），需定制。定制周期通常為45~60天。

Q5：如何驗(yàn)證廠商技術(shù)能力？

要求提供同類客戶案例（如華為、比亞迪的驗(yàn)收?qǐng)?bào)告），并考察其實(shí)驗(yàn)室是否具備溫度均勻性測(cè)試設(shè)備（如多點(diǎn)溫度記錄儀）。

外部參考

• 中國(guó)電器科學(xué)研究院《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》
• SGS通標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)《高溫老化測(cè)試操作指南》

聲明