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可定制高溫試驗(yàn)箱價(jià)格(定制高溫箱價(jià)格詳詢 )

隆安
2025-12-10 09:02:19
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內(nèi)容摘要：可定制高溫試驗(yàn)箱價(jià)格受溫度范圍、容積、控制精度等核心參數(shù)影響，價(jià)格區(qū)間跨度大（5萬(wàn)–50萬(wàn)元）。選型需結(jié)合負(fù)載類(lèi)型、試樣尺寸、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)（如IEC 60068、GB/T 2...

老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家

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可定制高溫試驗(yàn)箱價(jià)格受溫度范圍、容積、控制精度等核心參數(shù)影響，價(jià)格區(qū)間跨度大（5萬(wàn)–50萬(wàn)元）。選型需結(jié)合負(fù)載類(lèi)型、試樣尺寸、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)（如IEC 60068、GB/T 2423）及安全聯(lián)鎖要求。采購(gòu)流程需嚴(yán)格遵循技術(shù)協(xié)議確認(rèn)、FAT/SAT測(cè)試、計(jì)量校準(zhǔn)等環(huán)節(jié)，避免因參數(shù)虛標(biāo)或維護(hù)缺失導(dǎo)致測(cè)試失效。

快速答案卡片

問(wèn)題	答案
可定制高溫試驗(yàn)箱價(jià)格范圍	5萬(wàn)–50萬(wàn)元（依參數(shù)浮動(dòng)）
關(guān)鍵選型參數(shù)	溫度范圍、容積、控制精度、負(fù)載類(lèi)型
核心標(biāo)準(zhǔn)	IEC 60068-2-1、GB/T 2423.2
常見(jiàn)故障	溫度波動(dòng)超標(biāo)、加熱元件損壞、傳感器失效

選型決策流程

需求分析：明確試樣尺寸（如PCB板300×200mm）、負(fù)載類(lèi)型（電子元件/金屬材料）、測(cè)試周期（連續(xù)72小時(shí)）。
參數(shù)匹配：依據(jù)溫度范圍（如150℃–300℃）、容積（100L–1000L）、控制方式（PID/模糊控制）篩選設(shè)備。
標(biāo)準(zhǔn)驗(yàn)證：確認(rèn)設(shè)備符合IEC 60068-2-1（高溫試驗(yàn)）或GB/T 2423.2（電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)）。
廠商評(píng)估：要求提供FAT（工廠驗(yàn)收測(cè)試）報(bào)告、計(jì)量證書(shū)（如CNAS認(rèn)證）。

詢價(jià)模板：

致XX廠商：
請(qǐng)?zhí)峁┮韵屡渲脠?bào)價(jià)：
1. 溫度范圍：200℃±2℃
2. 容積：500L
3. 控制方式：PID+SSR
4. 安全聯(lián)鎖：超溫報(bào)警+斷電保護(hù)
5. 符合標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60068-2-1

核心參數(shù)與技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)

關(guān)鍵參數(shù)解釋表

參數(shù)	定義	典型值	失效影響
溫度均勻性	工作室內(nèi)各點(diǎn)溫差	≤±3℃	試樣局部過(guò)熱
升溫速率	室溫至設(shè)定溫度時(shí)間	5℃/min	測(cè)試周期延長(zhǎng)
分辨率	溫度顯示最小單位	0.1℃	數(shù)據(jù)記錄誤差
安全聯(lián)鎖	超溫/斷電保護(hù)	雙回路	設(shè)備燒毀風(fēng)險(xiǎn)

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)與適用邊界

IEC 60068-2-1：適用于電子元器件高溫老化，要求溫度波動(dòng)≤±2℃。
GB/T 2423.2：電工電子產(chǎn)品高溫試驗(yàn)，規(guī)定升溫速率≤3℃/min。
ASTM D573：橡膠材料高溫老化，需控制氧氣濃度（如空氣循環(huán)）。

典型設(shè)備橫評(píng)表

品牌/型號(hào)	溫度范圍	容積	控制精度	符合標(biāo)準(zhǔn)	附加特性	價(jià)格（萬(wàn)元）
隆安HT-500	RT+10℃–300℃	500L	±1℃	IEC 60068	獨(dú)立風(fēng)道	18–22
艾斯佩克HT-1000	RT–350℃	1000L	±2℃	GB/T 2423	遠(yuǎn)程監(jiān)控	35–40
賓德MF-115	RT+5℃–250℃	115L	±0.5℃	ASTM D573	觸摸屏	12–15