1. 導(dǎo)讀

2. 目錄

• 快速答案卡片
• 老化房技術(shù)原理與典型應(yīng)用
• 選型決策流程與參數(shù)表
• 采購全流程Checklist
• 操作與維護(hù)規(guī)范
• 選型對(duì)比表
• 常見故障與解決方案
• FAQ
• 外部參考

3. 快速答案卡片

4. 正文結(jié)構(gòu)

老化房技術(shù)原理與典型應(yīng)用

老化房通過模擬高溫環(huán)境加速產(chǎn)品壽命測(cè)試，核心機(jī)理為熱應(yīng)力加速失效。典型應(yīng)用場(chǎng)景包括：

• 電子元器件：PCB板、電容、芯片的焊點(diǎn)可靠性測(cè)試（依據(jù)JEDEC JESD22-A103標(biāo)準(zhǔn)）。
• 汽車部件：電池包、電機(jī)控制器的熱循環(huán)測(cè)試（參考ISO 16750-4）。
• 軍工產(chǎn)品：導(dǎo)彈導(dǎo)引頭、雷達(dá)模塊的極端環(huán)境驗(yàn)證。

失效模式：材料熱膨脹系數(shù)不匹配導(dǎo)致開裂、焊點(diǎn)蠕變斷裂、絕緣材料老化降解。

選型決策流程與參數(shù)表

步驟1：明確測(cè)試需求

• 試樣尺寸：長(zhǎng)×寬×高（如500mm×300mm×200mm）。
• 負(fù)載類型：靜態(tài)（固定安裝）或動(dòng)態(tài)（振動(dòng)+高溫耦合）。
• 測(cè)試周期：連續(xù)運(yùn)行72小時(shí)或間歇循環(huán)。

步驟2：關(guān)鍵參數(shù)表

詢價(jià)模板

采購全流程Checklist

1. 需求確認(rèn)：明確測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)（如MIL-STD-810G）、試樣數(shù)量。
2. 技術(shù)協(xié)議：約定溫度波動(dòng)度、報(bào)警閾值、校準(zhǔn)周期。
3. 報(bào)價(jià)對(duì)比：核查是否含運(yùn)輸、安裝、培訓(xùn)費(fèi)用。
4. FAT/SAT驗(yàn)收：
   • FAT（工廠驗(yàn)收）：空載運(yùn)行24小時(shí)，記錄溫度曲線。
   • SAT（現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)收）：滿載測(cè)試，驗(yàn)證均勻性。
5. 計(jì)量認(rèn)證：委托第三方機(jī)構(gòu)（如CNAS實(shí)驗(yàn)室）出具校準(zhǔn)證書。

操作與維護(hù)規(guī)范

日常操作

1. 預(yù)熱階段：逐步升溫至設(shè)定值，避免熱沖擊。
2. 試樣放置：間距≥100mm，確保氣流循環(huán)。
3. 數(shù)據(jù)記錄：每30分鐘記錄一次溫度、濕度（分辨率 ℃）。

維護(hù)清單

5. 選型對(duì)比表

6. 常見故障與解決方案

7. FAQ

Q1：老化房與烘箱的區(qū)別？
A：老化房側(cè)重長(zhǎng)期穩(wěn)定性測(cè)試（數(shù)小時(shí)至數(shù)月），烘箱用于短期干燥或固化（數(shù)分鐘至數(shù)小時(shí)）。

Q2：如何驗(yàn)證溫度均勻性？
A：在空載狀態(tài)下，布置9個(gè)測(cè)溫點(diǎn)（中心+四角+中層），連續(xù)記錄2小時(shí)，計(jì)算最大偏差。

Q3：負(fù)載過大對(duì)測(cè)試有何影響？
A：可能導(dǎo)致局部過熱，加速試樣失效，建議負(fù)載密度≤50W/m3。

8. 外部參考

• 全國工業(yè)溫度計(jì)量技術(shù)委員會(huì)：《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》
• IEEE：Electronic Device Reliability Testing Standards