揭陽(yáng)生產(chǎn)的試驗(yàn)箱在高溫老化測(cè)試中需嚴(yán)格匹配負(fù)載、溫度均勻性、控制精度等核心參數(shù)。用戶應(yīng)優(yōu)先選擇符合GB/T 2423.2、IEC 60068-2-2等標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)備，通過(guò)技術(shù)協(xié)議鎖定關(guān)鍵指標(biāo)，并完成FAT/SAT驗(yàn)收。采購(gòu)需規(guī)避低價(jià)陷阱，重點(diǎn)關(guān)注安全聯(lián)鎖設(shè)計(jì)與校準(zhǔn)周期。

目錄

1. 快速答案卡片
2. 揭陽(yáng)試驗(yàn)箱選型流程與技術(shù)參數(shù)
3. 核心參數(shù)對(duì)比表
4. 主流廠商技術(shù)對(duì)比
5. 采購(gòu)風(fēng)險(xiǎn)與避坑指南
6. 全流程采購(gòu)Checklist
7. 常見(jiàn)問(wèn)題解答
8. 聲明

快速答案卡片

揭陽(yáng)試驗(yàn)箱選型流程與技術(shù)參數(shù)

1. 試驗(yàn)?zāi)康呐c典型工況

揭陽(yáng)試驗(yàn)箱主要用于電子元器件（如IC封裝、PCB）、汽車(chē)零部件（如線束、連接器）、光伏組件的高溫加速老化測(cè)試。典型工況包括：

• 恒定高溫試驗(yàn)：85℃/168h（模擬長(zhǎng)期使用）
• 溫度循環(huán)試驗(yàn)：-40℃~125℃（1000次循環(huán)，檢測(cè)熱應(yīng)力失效）
• 濕熱交替試驗(yàn)：85℃/85%RH（240h，檢測(cè)腐蝕與絕緣性能）

2. 關(guān)鍵參數(shù)與失效機(jī)理

3. 選型決策流程

1. 確定測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)（如GB/T 2423.2要求溫度波動(dòng)≤±2℃）
2. 計(jì)算樣本體積（占箱體容積≤30%）
3. 驗(yàn)證安全聯(lián)鎖（超溫?cái)嚯?、門(mén)鎖保護(hù)）
4. 要求廠商提供第三方校準(zhǔn)報(bào)告（CNAS認(rèn)證）

4. 詢價(jià)模板

致：XX廠商
需采購(gòu)高溫試驗(yàn)箱1臺(tái)，技術(shù)要求如下：
1. 溫度范圍：RT~+150℃
2. 均勻性：±1.5℃（負(fù)載50%）
3. 升溫速率：≥5℃/min
4. 符合標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60068-2-2
5. 附加功能：數(shù)據(jù)記錄、遠(yuǎn)程監(jiān)控
請(qǐng)于3個(gè)工作日內(nèi)提供技術(shù)方案與報(bào)價(jià)。

核心參數(shù)對(duì)比表

主流廠商技術(shù)對(duì)比

采購(gòu)風(fēng)險(xiǎn)與避坑指南

1. 低價(jià)陷阱識(shí)別

• 價(jià)格低于市場(chǎng)均價(jià)30%：可能采用二手加熱管或簡(jiǎn)化安全設(shè)計(jì)
• 案例：2025年某廠商以6萬(wàn)元銷(xiāo)售“TH-500B”型號(hào)，實(shí)際溫度均勻性達(dá)±5℃，導(dǎo)致客戶測(cè)試數(shù)據(jù)失效

2. 合同風(fēng)險(xiǎn)條款

• 避免“驗(yàn)收后責(zé)任轉(zhuǎn)移”條款，要求保留10%尾款作為質(zhì)保金
• 明確校準(zhǔn)周期（建議每6個(gè)月一次）

3. 維護(hù)成本預(yù)估

全流程采購(gòu)Checklist

1. 需求確認(rèn)：明確測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、樣本尺寸、預(yù)算
2. 技術(shù)協(xié)議：鎖定溫度均勻性、升溫速率、安全聯(lián)鎖等指標(biāo)
3. 報(bào)價(jià)對(duì)比：要求廠商提供分項(xiàng)報(bào)價(jià)（設(shè)備+運(yùn)輸+安裝）
4. FAT驗(yàn)收（工廠驗(yàn)收）： - 空載運(yùn)行24h，記錄溫度波動(dòng) - 負(fù)載測(cè)試（50%容量），驗(yàn)證均勻性
5. SAT驗(yàn)收（現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)收）： - 模擬實(shí)際工況運(yùn)行72h - 檢查數(shù)據(jù)記錄功能
6. 計(jì)量校準(zhǔn)：委托第三方機(jī)構(gòu)（如中國(guó)計(jì)量院）出具報(bào)告
7. 維保合同：明確響應(yīng)時(shí)間、備件庫(kù)存

常見(jiàn)問(wèn)題解答

Q1：試驗(yàn)箱溫度波動(dòng)大如何解決？

A：檢查風(fēng)道是否堵塞（清理過(guò)濾網(wǎng)），驗(yàn)證PID參數(shù)是否合理（建議P=50, I=300, D=10），若加熱管老化需更換（阻值偏差＞10%時(shí)）。

Q2：如何選擇容積？

A：按樣本尺寸計(jì)算，單層放置時(shí)箱體有效高度應(yīng)≥樣本高度+50mm，寬度與深度需滿足樣本間距≥50mm（避免熱傳導(dǎo)干擾）。

Q3：試驗(yàn)箱需要哪些安全認(rèn)證？

A：必須通過(guò)CE認(rèn)證（LVD低電壓指令+EMC電磁兼容），國(guó)內(nèi)項(xiàng)目需提供CQC認(rèn)證或計(jì)量器具型式批準(zhǔn)證書(shū)（CPA）。

外部專(zhuān)業(yè)來(lái)源

1. 中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院 - 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范
2. IEEE標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì) - IEC 60068系列標(biāo)準(zhǔn)解讀專(zhuān)欄

聲明