目錄

1. 高低溫試驗箱校準(zhǔn)測試核心條件
2. 快速答案卡片
3. 校準(zhǔn)測試關(guān)鍵參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)
4. 選型決策流程與橫評表
5. 設(shè)備對比與故障排查
6. 采購全流程Checklist
7. 常見問題解答
8. 外部參考
9. 聲明

高低溫試驗箱校準(zhǔn)測試核心條件

高低溫試驗箱校準(zhǔn)測試需滿足三大核心條件：

1. 環(huán)境參數(shù)控制：溫度范圍（-70℃~+180℃）、濕度范圍（10%~98%RH）、升降溫速率（≥3℃/min）需符合試驗需求。
2. 標(biāo)準(zhǔn)合規(guī)性：遵循GB/T 5170.2-2015（電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備校準(zhǔn)方法）、IEC 60068-2-1（國際低溫試驗標(biāo)準(zhǔn)）等規(guī)范。
3. 安全與可靠性：具備超溫保護、漏電保護、門鎖聯(lián)鎖等安全功能，防止試驗過程中設(shè)備或試樣損壞。

快速答案卡片

校準(zhǔn)測試關(guān)鍵參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)

關(guān)鍵參數(shù)解析

適用標(biāo)準(zhǔn)與邊界

• GB/T 5170.2-2015：規(guī)定試驗箱溫度校準(zhǔn)方法，適用于電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗。
• IEC 60068-2-1：國際低溫試驗標(biāo)準(zhǔn)，明確-70℃~+150℃范圍測試要求。
• MIL-STD-810G：軍用設(shè)備環(huán)境工程考慮，增加振動與濕度復(fù)合試驗條款。

選型決策流程與橫評表

選型五步法

1. 明確需求：確定試驗溫度范圍、試樣尺寸（如PCB板需≤500mm×500mm）。
2. 參數(shù)匹配：選擇控制精度±1℃、分辨率0.1℃的設(shè)備。
3. 安全驗證：檢查超溫保護、門鎖聯(lián)鎖功能是否通過CE認(rèn)證。
4. 預(yù)算評估：基礎(chǔ)型（5萬~10萬）與高端型（20萬~50萬）差異在于控制方式（伺服/PID）。
5. 廠商篩選：優(yōu)先選擇提供FAT（工廠驗收）、SAT（現(xiàn)場驗收）服務(wù)的廠商。

設(shè)備橫評表

設(shè)備對比與故障排查

高端型 vs 基礎(chǔ)型對比

常見故障與解決方案

1. 溫度失控：檢查加熱管電阻（正常值≤50Ω）、更換固態(tài)繼電器。
2. 濕度異常：驗證加濕器水位傳感器（誤差≤±5%RH）、清洗風(fēng)道。
3. 通信中斷：檢查RS485接口線序（A+B-）、更新PLC固件。

采購全流程Checklist

1. 需求確認(rèn)：填寫《試驗箱技術(shù)需求表》，明確溫度范圍、試樣數(shù)量。
2. 技術(shù)協(xié)議：約定校準(zhǔn)周期（建議每6個月一次）、驗收標(biāo)準(zhǔn)（溫度均勻性≤2℃）。
3. 報價對比：要求廠商提供分項報價（設(shè)備費、運輸費、安裝費）。
4. FAT/SAT驗收：在廠商工廠進行空載/滿載測試，記錄數(shù)據(jù)并簽字。
5. 計量認(rèn)證：委托第三方機構(gòu)（如CNAS認(rèn)可實驗室）出具校準(zhǔn)證書。
6. 維保合同：明確壓縮機、控制器等關(guān)鍵部件的質(zhì)保期（通?！?年）。

常見問題解答

Q1：校準(zhǔn)測試需要哪些工具？
A1：需使用標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計（精度±0.05℃）、數(shù)據(jù)采集儀（采樣率≥1次/秒）、濕度發(fā)生器（誤差≤±2%RH）。

Q2：如何判斷設(shè)備是否通過校準(zhǔn)？
A2：對比校準(zhǔn)報告中的實測值與標(biāo)準(zhǔn)值，若溫度偏差≤±1℃、濕度偏差≤±3%RH，則判定合格。

Q3：進口設(shè)備與國產(chǎn)設(shè)備的差異？
A3：進口設(shè)備（如ESPEC）在控制精度、材料耐腐蝕性上更優(yōu)，但價格高30%~50%；國產(chǎn)設(shè)備性價比高，適合預(yù)算有限用戶。

Q4：校準(zhǔn)周期如何確定？
A4：根據(jù)使用頻率：每日使用建議每3個月校準(zhǔn)一次，偶爾使用可延長至6個月。

Q5：設(shè)備搬遷后需要重新校準(zhǔn)嗎？
A5：需重新校準(zhǔn)，因運輸可能導(dǎo)致傳感器移位或風(fēng)道變形，影響溫度均勻性。

外部參考

• 全國計量標(biāo)準(zhǔn)信息公共服務(wù)平臺：查詢CNAS認(rèn)可的校準(zhǔn)實驗室列表。
• 中國電器科學(xué)研究院：發(fā)布《環(huán)境試驗設(shè)備選型指南（2025版）》。

聲明