關(guān)鍵參數(shù)表：

適用標(biāo)準(zhǔn)與邊界：

• GB/T ：適用于電子產(chǎn)品的低氣壓試驗，要求氣壓下降速率≤10kPa/min。
• MIL-STD-810G：軍用設(shè)備需滿足-55℃~+85℃、10kPa持續(xù)48小時的極端工況。
• 包裝運輸標(biāo)準(zhǔn)：ASTM D4169規(guī)定，低氣壓試驗需結(jié)合振動、沖擊復(fù)合測試。

選型決策流程與實操表

步驟1：明確需求

• 測試對象：電子元件（選小型箱）、發(fā)動機（選大型箱）。
• 工況復(fù)雜度：是否需溫度-濕度-氣壓三綜合？

步驟2：參數(shù)匹配表

步驟3：詢價模板

采購全流程Checklist

1. 需求確認(rèn)：聯(lián)合研發(fā)、質(zhì)量部門簽署技術(shù)協(xié)議。
2. 技術(shù)評審：核對廠商提供的設(shè)備圖紙、控制邏輯圖。
3. FAT（工廠驗收）：
   • 運行72小時連續(xù)測試，記錄溫度/氣壓波動。
   • 驗證安全聯(lián)鎖功能（如過壓自動停機）。
4. SAT（現(xiàn)場驗收）：模擬實際工況，復(fù)現(xiàn)3次關(guān)鍵測試點。
5. 計量校準(zhǔn)：每年委托第三方機構(gòu)（如CNAS實驗室）校準(zhǔn)傳感器。

5. 選型對比表

6. 常見故障與維護

故障1：氣壓無法穩(wěn)定

• 原因：真空泵磨損、氣管漏氣。
• 解決：更換泵體密封圈，用肥皂水檢測漏點。

故障2：溫度超調(diào)

• 原因：PID參數(shù)失調(diào)、加熱管老化。
• 解決：重新整定PID值（推薦P=50、I=300、D=10），更換加熱元件。

維護周期表：

7. FAQ

Q1：低氣壓試驗箱能否替代高溫老化箱？ A：不能。低氣壓箱側(cè)重氣壓控制，高溫老化箱需獨立加熱系統(tǒng)。復(fù)合測試需選三綜合試驗箱。

Q2：如何驗證設(shè)備精度？ A：使用標(biāo)準(zhǔn)氣壓計（如Druck DPI 615）和鉑電阻溫度計，對比設(shè)備顯示值與實測值，誤差需在標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)。

Q3：國產(chǎn)設(shè)備與進口設(shè)備的差距？ A：國產(chǎn)設(shè)備在基礎(chǔ)功能上已達標(biāo)，但進口設(shè)備在長期穩(wěn)定性（如MTBF＞5000小時）和智能化（如自動生成測試報告）方面更優(yōu)。

8. 外部參考

• 中國電器科學(xué)研究院：設(shè)備檢測標(biāo)準(zhǔn)專欄
• SAE International：航空航天環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)庫