導(dǎo)讀

THT試驗(yàn)箱是高溫老化環(huán)境測試的核心設(shè)備，選型需重點(diǎn)關(guān)注溫度范圍、控制精度、負(fù)載能力及安全聯(lián)鎖設(shè)計(jì)。工程師需結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)（如IEC 60068-2-2、GB/T ）與實(shí)際工況，通過參數(shù)對比、驗(yàn)收清單及采購流程管控，規(guī)避低價(jià)陷阱與性能虛標(biāo)風(fēng)險(xiǎn)。

目錄

1. 快速答案卡片
2. THT試驗(yàn)箱核心參數(shù)解析
3. 選型決策流程與實(shí)操表
4. 主流型號(hào)對比表
5. 采購全流程Checklist
6. 故障與維護(hù)指南
7. FAQ
8. 外部參考

快速答案卡片

• 核心參數(shù)：溫度范圍-20℃~300℃，控制精度±1℃，負(fù)載容量100kg（電子元件）。
• 選型關(guān)鍵：優(yōu)先符合IEC 60068-2-2標(biāo)準(zhǔn)，伺服控制優(yōu)于PID，安全聯(lián)鎖需含超溫報(bào)警。
• 避坑提示：低價(jià)設(shè)備可能虛標(biāo)溫度均勻性，要求廠商提供第三方校準(zhǔn)報(bào)告。
• 維護(hù)周期：每3個(gè)月清潔風(fēng)道，每年更換加熱管，每2年校準(zhǔn)傳感器。

核心參數(shù)解析

表1：THT試驗(yàn)箱關(guān)鍵參數(shù)定義

典型工況：電子元件高溫老化（125℃/48h）、汽車線束耐熱測試（150℃/24h）、軍工產(chǎn)品熱沖擊（-40℃~150℃循環(huán)）。

選型決策流程

步驟1：明確測試需求

• 試樣尺寸：長×寬×高≤1m3（常規(guī)型號(hào)）或定制大容積。
• 溫度曲線：恒溫/階梯升溫/循環(huán)溫變（需伺服控制）。
• 負(fù)載類型：金屬（導(dǎo)熱快） vs 塑料（需預(yù)熱）。

步驟2：參數(shù)匹配表

步驟3：詢價(jià)模板

主流型號(hào)對比表

采購全流程Checklist

1. 需求確認(rèn)：明確測試標(biāo)準(zhǔn)、試樣量、預(yù)算。
2. 技術(shù)協(xié)議：約定溫度波動(dòng)度、均勻性、安全功能。
3. 報(bào)價(jià)對比：要求廠商提供配置清單及校準(zhǔn)證書。
4. FAT（工廠驗(yàn)收）：
   • 空載運(yùn)行24h，記錄溫度曲線。
   • 負(fù)載測試（滿載50kg，運(yùn)行12h）。
5. SAT（現(xiàn)場驗(yàn)收）：
   • 安裝環(huán)境檢查（通風(fēng)、電源）。
   • 聯(lián)調(diào)測試（與數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)對接）。
6. 計(jì)量校準(zhǔn)：每年委托第三方機(jī)構(gòu)（如CNAS實(shí)驗(yàn)室）校準(zhǔn)。
7. 維保合同：明確備件供應(yīng)周期、響應(yīng)時(shí)間。

故障與維護(hù)指南

表2：常見故障與解決方案

維護(hù)周期表

• 每日：檢查記錄儀數(shù)據(jù)。
• 每月：清潔箱體內(nèi)部。
• 每半年：更換循環(huán)風(fēng)機(jī)軸承。

FAQ

Q1：THT試驗(yàn)箱與HAST試驗(yàn)箱的區(qū)別？
A1：THT（高溫試驗(yàn)）側(cè)重長期耐熱性，溫度≤300℃；HAST（高壓加速老化）通過高溫高濕（130℃/85%RH/2atm）縮短測試周期，適用于半導(dǎo)體封裝。

Q2：如何驗(yàn)證溫度均勻性？
A2：按IEC 60068-2-2要求，在空載狀態(tài)下布置9個(gè)測溫點(diǎn)（中心及四角），運(yùn)行至穩(wěn)定狀態(tài)后記錄1h數(shù)據(jù)，計(jì)算最大偏差。

Q3：低價(jià)設(shè)備可能存在哪些隱患？
A3：溫度均勻性虛標(biāo)（實(shí)際偏差＞±5℃）、安全聯(lián)鎖缺失、加熱管功率不足導(dǎo)致升溫失敗。

Q4：伺服控制與PID控制的差異？
A4：伺服控制通過編碼器反饋實(shí)時(shí)調(diào)整，溫度波動(dòng)＜± ℃；PID控制依賴經(jīng)驗(yàn)參數(shù)，波動(dòng)可能達(dá)±2℃。

Q5：是否需要配置濕度功能？
A5：若測試標(biāo)準(zhǔn)包含濕熱交替（如GB/T ），需選擇溫濕度一體機(jī)；純高溫測試可省去濕度模塊。

外部參考

• 中國電器科學(xué)研究院《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》欄目
• IEEE《高溫老化測試對電子元件壽命的影響》論文集

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