導(dǎo)讀：

北京慶聲作為國內(nèi)環(huán)境模擬測(cè)試設(shè)備領(lǐng)域的技術(shù)型廠商，其PCT試驗(yàn)箱（高壓加速老化試驗(yàn)箱）以高精度控制、安全聯(lián)鎖設(shè)計(jì)及符合IEC 60512、JIS Z2371等國際標(biāo)準(zhǔn)為優(yōu)勢(shì)，適用于電子元器件、汽車零部件、軍工產(chǎn)品的濕熱應(yīng)力老化測(cè)試。用戶選型時(shí)需重點(diǎn)關(guān)注溫度/濕度均勻性、負(fù)載容量及安全防護(hù)等級(jí)，避免因參數(shù)虛標(biāo)或維護(hù)缺失導(dǎo)致測(cè)試失效。

目錄：

1. 快速答案卡片
2. PCT試驗(yàn)箱技術(shù)核心與典型應(yīng)用
3. 選型決策流程與參數(shù)表
4. 采購全流程Checklist
5. 故障診斷與維護(hù)清單
6. 選型橫評(píng)表（北京慶聲 vs 競(jìng)品）
7. FAQ
8. 外部參考

快速答案卡片：

PCT試驗(yàn)箱技術(shù)核心與典型應(yīng)用

試驗(yàn)?zāi)康呐c失效機(jī)理

PCT試驗(yàn)通過高溫（>100℃）、高濕（100%RH）及高壓（2~3atm）環(huán)境，加速產(chǎn)品內(nèi)部水分滲透，誘發(fā)腐蝕、絕緣失效、封裝開裂等缺陷。典型應(yīng)用場(chǎng)景包括：

• 電子元器件：IC封裝、連接器、PCB板（檢測(cè)離子遷移、鍍層腐蝕）
• 汽車零部件：傳感器、ECU、線束（模擬發(fā)動(dòng)機(jī)艙高溫高濕環(huán)境）
• 軍工產(chǎn)品：耐濕熱性能驗(yàn)證（GJB ）

關(guān)鍵參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)

選型決策流程與參數(shù)表

選型四步法

1. 明確測(cè)試需求：試樣尺寸（長×寬×高）、負(fù)載數(shù)量（如100個(gè)IC封裝）
2. 匹配容積與負(fù)載：容積=試樣總體積× （預(yù)留空氣循環(huán)空間）
3. 驗(yàn)證控制精度：要求廠商提供第三方校準(zhǔn)報(bào)告（如CNAS認(rèn)證）
4. 確認(rèn)安全功能：過溫保護(hù)響應(yīng)時(shí)間≤2秒、門鎖互鎖失效概率≤1e-6

參數(shù)解釋表

采購全流程Checklist

1. 需求確認(rèn)：填寫《技術(shù)規(guī)格書》（含試樣尺寸、測(cè)試周期、標(biāo)準(zhǔn)條款）
2. 技術(shù)協(xié)議：明確驗(yàn)收指標(biāo)（如溫度均勻性≤±2℃）、違約責(zé)任
3. 報(bào)價(jià)對(duì)比：要求分項(xiàng)報(bào)價(jià)（設(shè)備費(fèi)、運(yùn)輸費(fèi)、安裝調(diào)試費(fèi)）
4. FAT/SAT驗(yàn)收：
   • FAT（工廠驗(yàn)收）：空載運(yùn)行48小時(shí)，記錄溫濕度曲線
   • SAT（現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)收）：負(fù)載測(cè)試，驗(yàn)證安全聯(lián)鎖功能
5. 計(jì)量校準(zhǔn)：首次使用前需通過省級(jí)計(jì)量院校準(zhǔn)（出具CNAS報(bào)告）

故障診斷與維護(hù)清單

選型橫評(píng)表（北京慶聲 vs 競(jìng)品）

FAQ

Q1：PCT試驗(yàn)箱能否替代HAST試驗(yàn)箱？
A1：不能完全替代。HAST試驗(yàn)箱溫度更高（130℃~150℃），壓力更低（ ~2atm），適用于快速篩選；PCT試驗(yàn)箱壓力更高（2~3atm），更接近實(shí)際嚴(yán)苛環(huán)境。

Q2：如何驗(yàn)證廠商的技術(shù)實(shí)力？
A2：要求提供近3年同類客戶案例（如華為、比亞迪）、CNAS實(shí)驗(yàn)室合作證明、專利數(shù)量（北京慶聲持有12項(xiàng)PCT相關(guān)專利）。

Q3：設(shè)備校準(zhǔn)周期是多久？
A3：首次校準(zhǔn)周期為1年，后續(xù)根據(jù)使用頻率調(diào)整。電子元器件行業(yè)建議每6個(gè)月校準(zhǔn)一次（依據(jù)IEC 17025）。

外部參考

• 中國電器科學(xué)研究院《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》
• SAE J2334《汽車電子濕熱循環(huán)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)》