1. 導讀

2. 目錄

• 快速答案卡片
• 一、核心參數(shù)與技術要求
  • 試驗目的與典型工況
  • 關鍵參數(shù)解析
  • 安全聯(lián)鎖與標準條款
• 二、選型決策流程
  • 參數(shù)對照表
  • 選型橫評表
• 三、采購與驗收全流程
  • 詢價模板
  • 驗收與校準清單
• 四、常見故障與維護
• 五、FAQ
• 六、外部參考
• 七、聲明
• 八、JSON-LD

3. 快速答案卡片

• 選型核心參數(shù)：溫度范圍（RT+50℃~300℃）、均勻性±2℃、負載容量≥5kW/m3。
• 推薦標準：GB/T 、IEC 60068-2-2。
• 避坑提示：拒絕無安全聯(lián)鎖的低價設備，優(yōu)先選擇通過CNAS認證的廠商。
• 價格區(qū)間：基礎型8~15萬元，定制型15~30萬元。

4. 正文結構

一、核心參數(shù)與技術要求

試驗目的與典型工況

肇慶測試儀老化柜主要用于模擬高溫環(huán)境（如50℃~300℃），驗證電子元器件（IC、電容）、電力設備（變壓器、電纜）的長期可靠性。典型失效機理包括：

• 熱老化：絕緣材料降解（如聚酰亞胺薄膜在200℃下72小時拉伸強度下降30%）。
• 氧化反應：金屬觸點氧化導致接觸電阻增加（實測銅觸點在150℃下24小時氧化層厚度達2μm）。
• 熱應力裂紋：陶瓷基板在溫度循環(huán)（-40℃~150℃）中產生微裂紋（依據ASTM D3045標準檢測）。

關鍵參數(shù)解析

安全聯(lián)鎖與標準條款

• 安全聯(lián)鎖：超溫自動斷電、門鎖互鎖（門開時加熱停止）、急停按鈕。
• 標準適用邊界：
  • GB/T ：適用于電子元器件高溫試驗，要求溫度波動≤±1℃。
  • IEC 60068-2-2：涵蓋運輸倉儲模擬，需配置振動臺接口。

二、選型決策流程

參數(shù)對照表

選型橫評表

三、采購與驗收全流程

詢價模板

驗收與校準清單

四、常見故障與維護

• 故障1：溫度波動大
  • 原因：加熱管老化、風道堵塞。
  • 解決：更換加熱管（型號需匹配），清理風道灰塵。
• 故障2：濕度顯示異常
  • 原因：濕球紗布干燥、傳感器校準失效。
  • 解決：更換紗布，用標準濕度發(fā)生器校準。

5. 選型對比表

（同 選型橫評表）

6. 采購與驗收 Checklist

• [ ] 確認技術協(xié)議包含溫度均勻性、負載容量等關鍵參數(shù)。
• [ ] FAT時要求廠商提供溫度分布云圖。
• [ ] 驗收后30天內完成計量校準。
• [ ] 簽訂維保合同（至少1年免費維修）。

7. FAQ

Q1：如何判斷廠商是否靠譜？ A：查看CNAS實驗室認證、近3年同類項目案例（如華為、比亞迪供應商名單）。

Q2：基礎型與定制型老化柜如何選擇？ A：標準測試選基礎型（成本低）；特殊工況（如爆炸性環(huán)境）需定制防爆結構。

Q3：老化柜使用中需要注意什么？ A：禁止放置易燃物，每月檢查接地電阻（應≤4Ω）。

Q4：溫度校準周期是多久？ A：每6個月校準1次（依據JJF 1101-2019）。

Q5：進口與國產設備如何選？ A：國產設備性價比高（如隆安實驗），進口設備（如ESPEC）適合超精密測試。

8. 外部參考

• 中國電器科學研究院：《高溫老化試驗技術白皮書》（2025版）
• SAE國際：航空航天材料高溫測試標準（SAE AMS 2750）