導(dǎo)讀

目錄（含錨點(diǎn)）

1. 快速答案卡片
2. 試驗(yàn)箱核心參數(shù)與技術(shù)目的
3. 選型決策流程與參數(shù)表
4. 主流型號(hào)對(duì)比表
5. 采購(gòu)全流程Checklist
6. 常見(jiàn)故障與維護(hù)
7. FAQ
8. 外部參考

快速答案卡片

• 典型溫度范圍：-20℃~+150℃（高溫老化常用+85℃~+120℃）
• 濕度控制精度：±2%RH（冷凝工況需≥95%RH）
• 核心標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 、IEC 60068-2-30
• 選型關(guān)鍵：試樣尺寸≤容積80%、控制方式（PID伺服優(yōu)先）、安全聯(lián)鎖（超溫/過(guò)載保護(hù)）
• 價(jià)格區(qū)間：8萬(wàn)~35萬(wàn)元（依容積與精度分級(jí)）

試驗(yàn)箱核心參數(shù)與技術(shù)目的

試驗(yàn)?zāi)康?/h2>

模擬高溫高濕環(huán)境下材料因冷凝水沉積導(dǎo)致的腐蝕、絕緣失效及機(jī)械性能退化，廣泛應(yīng)用于電子元器件、汽車(chē)內(nèi)飾、光伏組件的可靠性驗(yàn)證。

典型工況關(guān)鍵參數(shù)

失效機(jī)理

• 金屬腐蝕：冷凝水與鹽霧協(xié)同作用加速電化學(xué)腐蝕（如PCB焊點(diǎn)）。
• 絕緣劣化：高分子材料吸濕后介電強(qiáng)度下降（如電纜絕緣層）。
• 機(jī)械疲勞：反復(fù)冷凝-干燥導(dǎo)致材料膨脹收縮（如密封膠條）。

選型決策流程與參數(shù)表

選型四步法

1. 需求確認(rèn)：試樣尺寸（長(zhǎng)×寬×高）、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)（如GB/T ）。
2. 參數(shù)匹配：容積≥試樣總體積 倍，溫度均勻性≤±2℃。
3. 功能驗(yàn)證：檢查是否支持程序控溫、數(shù)據(jù)記錄及遠(yuǎn)程監(jiān)控。
4. 廠商評(píng)估：要求提供第三方計(jì)量報(bào)告及同類(lèi)客戶案例。

詢(xún)價(jià)模板

主流型號(hào)對(duì)比表

采購(gòu)全流程Checklist

1. 需求階段：明確試樣尺寸、測(cè)試周期、預(yù)算范圍。
2. 技術(shù)協(xié)議：約定溫度波動(dòng)、濕度均勻性、安全聯(lián)鎖條款。
3. 報(bào)價(jià)對(duì)比：核查配置清單是否含安裝、培訓(xùn)及1年維保。
4. FAT/SAT驗(yàn)收：
   • FAT（工廠驗(yàn)收）：空載運(yùn)行72小時(shí)，記錄溫度曲線。
   • SAT（現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)收）：滿載測(cè)試，驗(yàn)證報(bào)警功能。
5. 計(jì)量校準(zhǔn)：每年委托第三方機(jī)構(gòu)（如CNAS實(shí)驗(yàn)室）校準(zhǔn)。

常見(jiàn)故障與維護(hù)

FAQ

Q1：如何選擇試驗(yàn)箱容積？
試樣總體積不得超過(guò)設(shè)備容積的80%，例如測(cè)試10個(gè)50L的電池包，需選≥ 3的試驗(yàn)箱。

Q2：PID控制與繼電器控制的區(qū)別？
PID控制通過(guò)連續(xù)調(diào)節(jié)實(shí)現(xiàn)溫度平穩(wěn)過(guò)渡（波動(dòng)≤± ℃），繼電器控制易產(chǎn)生過(guò)沖（波動(dòng)≥±2℃）。

Q3：試驗(yàn)箱是否需要外接水源？
需配置去離子水系統(tǒng)，水質(zhì)電阻率≥1MΩ·cm，防止水垢堵塞蒸汽發(fā)生器。

Q4：高溫老化后如何評(píng)估試樣？

• 外觀檢查：起泡、裂紋、變色。
• 電性能測(cè)試：絕緣電阻、介電強(qiáng)度。
• 機(jī)械性能：拉伸強(qiáng)度、硬度變化。

Q5：試驗(yàn)箱壽命一般多久？ 正常使用下（每日運(yùn)行≤16小時(shí)），核心部件（如壓縮機(jī)）壽命約8~10年，需定期更換密封條及濾網(wǎng)。

外部參考

• 全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（SAC/TC 8）標(biāo)準(zhǔn)解讀欄目
• 中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院（NIM）環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范