1. 導(dǎo)讀

多禾恒溫恒濕試驗(yàn)箱在高溫老化、環(huán)境模擬測試領(lǐng)域以高精度（± ℃/±2%RH）、穩(wěn)定控制及符合國際標(biāo)準(zhǔn)（如IEC 60068、GB/T 2423）著稱，適用于電子元器件、汽車零部件、軍工產(chǎn)品的長期可靠性驗(yàn)證。其技術(shù)成熟度與售后服務(wù)體系可降低用戶選型風(fēng)險，但需根據(jù)負(fù)載容量、溫濕度范圍等參數(shù)嚴(yán)格匹配需求，避免因配置不足導(dǎo)致測試失效。

2. 目錄

• 快速答案卡片
• 設(shè)備技術(shù)核心解析
• 選型決策流程與參數(shù)表
• 采購全流程Checklist
• 選型對比表
• 常見故障與維護(hù)指南
• FAQ
• 外部參考

3. 快速答案卡片

• 典型工況：電子元件高溫老化（85℃/85%RH，持續(xù)1000小時）
• 關(guān)鍵參數(shù)：溫度均勻性≤2℃，濕度波動± %RH
• 核心標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60068-2-78（濕熱）、GB/T （恒定濕熱）
• 選型重點(diǎn)：負(fù)載容量需≥試樣總質(zhì)量 倍，容積留20%余量
• 價格區(qū)間：5-30萬元（依配置浮動）

4. 設(shè)備技術(shù)核心解析

試驗(yàn)?zāi)康呐c失效機(jī)理

高溫高濕環(huán)境會加速材料氧化、金屬腐蝕、絕緣性能下降，導(dǎo)致電子元件（如電容、IC）參數(shù)漂移或失效。例如，某軍工電源模塊在85℃/85%RH下720小時后，輸出電壓偏差超標(biāo)30%，原因系環(huán)氧樹脂封裝吸濕后膨脹應(yīng)力破壞內(nèi)部線路。

關(guān)鍵參數(shù)與技術(shù)邊界

標(biāo)準(zhǔn)適用邊界：

• IEC 60068-2-78：適用于消費(fèi)電子、汽車電子的濕熱試驗(yàn)
• MIL-STD-810G：軍工產(chǎn)品極端環(huán)境測試（需定制）
• GB/T ：國內(nèi)電子設(shè)備通用濕熱標(biāo)準(zhǔn)

5. 選型決策流程與參數(shù)表

選型步驟

1. 需求確認(rèn)：明確試樣尺寸（長×寬×高）、總質(zhì)量、測試周期
2. 參數(shù)匹配：
   • 容積=試樣總體積× （預(yù)留操作空間）
   • 溫度范圍=最高測試溫+10℃（余量）
3. 控制方式選擇：
   • 伺服控制：精度高（± ℃），適用于精密元件
   • 液壓控制：負(fù)載大（>50kg），但響應(yīng)慢

參數(shù)解釋表

6. 采購全流程Checklist

7. 選型對比表

8. 常見故障與維護(hù)指南

典型故障

• 濕度失控：原因多為加濕器結(jié)垢或傳感器漂移
  解決方案：每月用檸檬酸清洗加濕器，每年校準(zhǔn)傳感器
• 溫度超調(diào)：PID參數(shù)設(shè)置不當(dāng)或加熱管老化
  解決方案：聯(lián)系廠商重新整定PID，更換加熱元件

維護(hù)周期表

9. FAQ

Q1：多禾試驗(yàn)箱是否支持多段程序控制？
A：支持，可通過觸摸屏或上位機(jī)軟件設(shè)置溫度/濕度斜率、保持時間，程序容量≥100段，適用于階梯式老化測試。

Q2：設(shè)備出現(xiàn)E03報(bào)警代碼如何處理？
A：E03為過溫保護(hù)，立即按急停按鈕，檢查加熱回路是否短路或溫控表參數(shù)是否被誤修改，恢復(fù)后需重新運(yùn)行自檢程序。

Q3：如何驗(yàn)證設(shè)備均勻性是否達(dá)標(biāo)？
A：在空載狀態(tài)下，布置9個測試點(diǎn)（按GB/T ），運(yùn)行至穩(wěn)定狀態(tài)后記錄數(shù)據(jù)，計(jì)算最大值與最小值差值，需≤2℃。

10. 外部參考

• 中國電器科學(xué)研究院：《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》欄目
• SAE International：AS6081航空航天環(huán)境測試標(biāo)準(zhǔn)