導(dǎo)讀：

目錄

1. 快速答案卡片
2. 試驗箱技術(shù)參數(shù)與選型指南
3. 操作流程與關(guān)鍵參數(shù)設(shè)置
4. 常見故障與維護方案
5. 選型對比表
6. 采購與驗收Checklist
7. FAQ
8. 外部參考

快速答案卡片：

• 選型核心參數(shù)：溫度范圍（-70℃~300℃）、濕度范圍（10%~98%RH）、控制精度（± ℃）。
• 典型應(yīng)用：電子元器件高溫老化、材料熱穩(wěn)定性測試。
• 關(guān)鍵標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 、IEC 60068-2-2。
• 維護周期：每3個月清潔風(fēng)道，每6個月校準(zhǔn)傳感器。
• 價格區(qū)間：5萬~30萬元（依容積與精度）。

試驗箱技術(shù)參數(shù)與選型指南

1. 試驗?zāi)康呐c失效機理

HCT試驗箱通過模擬高溫環(huán)境（如125℃、150℃），加速產(chǎn)品內(nèi)部材料老化，驗證其熱穩(wěn)定性、絕緣性能及機械結(jié)構(gòu)可靠性。典型失效模式包括：

• 電子元器件：焊點熔化、封裝開裂。
• 高分子材料：熱降解、蠕變變形。
• 金屬部件：氧化腐蝕、熱疲勞。

2. 關(guān)鍵參數(shù)解析表

3. 選型決策流程

1. 需求分析：明確測試樣品尺寸（如PCB板≤500mm×500mm）、溫度范圍（如軍工產(chǎn)品需-55℃~125℃）。
2. 參數(shù)匹配：依據(jù)GB/T 選擇溫度均勻性≤±2℃的設(shè)備。
3. 廠商評估：優(yōu)先選擇通過ISO 9001認(rèn)證的廠商（如福建隆安儀器）。
4. 成本優(yōu)化：小批量測試可選臺式機（容積<100L），批量測試選落地式（容積≥500L）。

4. 詢價模板

操作流程與關(guān)鍵參數(shù)設(shè)置

1. 操作步驟

1. 樣品放置：試樣距箱壁≥100mm，避免遮擋風(fēng)道。
2. 參數(shù)設(shè)定：
   • 溫度：125℃（電子元器件典型值）。
   • 持續(xù)時間：96h（依據(jù)MIL-STD-810G）。
3. 啟動運行：確認(rèn)安全聯(lián)鎖正常后啟動。
4. 數(shù)據(jù)記錄：每2h記錄一次溫度曲線。

2. 驗收與校準(zhǔn)清單

常見故障與維護方案

1. 典型故障表

2. 維護周期表

選型對比表

采購與驗收Checklist

1. 需求確認(rèn)：明確測試樣品類型、溫度范圍、批量。
2. 技術(shù)協(xié)議：約定溫度均勻性、升溫速率等指標(biāo)。
3. FAT/SAT測試：在廠商處（FAT）及用戶現(xiàn)場（SAT）驗證性能。
4. 安裝調(diào)試：檢查接地、通風(fēng)是否符合安全規(guī)范。
5. 計量證書：要求廠商提供第三方校準(zhǔn)報告。
6. 維保條款：明確保修期（通常1年）、響應(yīng)時間（≤24h）。

FAQ

Q1：如何選擇適合的試驗箱容積？
A：依據(jù)樣品尺寸，單層放置時容積=樣品數(shù)量×（長×寬× 倍安全間距）。例如50塊200mm×200mm的PCB板，需容積≥50×( × × )=300L。

Q2：試驗箱溫度波動大怎么辦？
A：檢查PID參數(shù)是否失調(diào)，或更換精度更高的鉑電阻傳感器（如PT100）。

Q3：高溫老化測試需持續(xù)多久？
A：依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)，電子元器件通常96h（125℃），軍工產(chǎn)品可能需1000h（85℃）。

Q4：如何判斷廠商是否可靠？
A：核查是否通過CNAS認(rèn)證，查看近3年同類客戶案例（如華為、中興供應(yīng)商名單）。

Q5：試驗箱與烘箱的區(qū)別？
A：試驗箱具備溫度均勻性控制（±2℃）及數(shù)據(jù)記錄功能，烘箱僅用于簡單干燥（均勻性可能達(dá)±10℃）。

外部參考

• 全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會（SAC/TC 8）
• 中國計量科學(xué)研究院《環(huán)境試驗設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》