導(dǎo)讀：

目錄：

1. 快速答案卡片
2. 試驗箱技術(shù)核心參數(shù)解析
3. 選型決策流程與參數(shù)表
4. 宜興廠商橫評對比表
5. 采購全流程Checklist
6. 常見故障與維護(hù)指南
7. FAQ
8. 外部參考

快速答案卡片：

試驗箱技術(shù)核心參數(shù)解析

1. 典型工況與失效機理

• 應(yīng)用場景：高溫老化測試（如PCB板、LED驅(qū)動電源）、軍工電子元件冷熱循環(huán)、汽車傳感器可靠性驗證。
• 失效模式：材料熱脹冷縮導(dǎo)致焊點開裂、密封件老化泄漏、塑料件脆化。
• 關(guān)鍵參數(shù)：
  • 溫度范圍：低溫區(qū)（-80℃~-40℃）影響材料脆性，高溫區(qū)（+150℃~+300℃）加速氧化。
  • 轉(zhuǎn)換時間：≤10秒（GB/T 要求），過慢導(dǎo)致試樣溫度滯后。
  • 負(fù)載能力：試樣架承重≥50kg，試樣尺寸需滿足容積的70%以下。

2. 控制方式對比

選型決策流程與參數(shù)表

選型步驟：

1. 明確需求：測試對象（如芯片/電池）、溫度循環(huán)次數(shù)（如1000次）。
2. 參數(shù)匹配：
   • 試樣尺寸：長×寬×高≤設(shè)備容積的70%。
   • 溫度均勻性：≤±2℃（依據(jù)IEC 60068-2-14）。
3. 安全聯(lián)鎖：超溫報警、門鎖聯(lián)動、急停按鈕。

參數(shù)解釋表：

宜興廠商橫評對比表

采購全流程Checklist

1. 需求確認(rèn)：填寫《試驗箱技術(shù)需求表》（含試樣尺寸、循環(huán)次數(shù)）。
2. 技術(shù)協(xié)議：明確溫度范圍、均勻性、安全條款。
3. 報價對比：要求廠商提供分項報價（設(shè)備/運輸/安裝）。
4. FAT/SAT驗收：
   • FAT（工廠驗收）：檢查溫度曲線、聯(lián)鎖功能。
   • SAT（現(xiàn)場驗收）：模擬實際工況運行24小時。
5. 計量校準(zhǔn)：委托第三方機構(gòu)（如CNAS認(rèn)證實驗室）出具校準(zhǔn)證書。

常見故障與維護(hù)指南

故障現(xiàn)象與處理：

維護(hù)周期表：

FAQ

Q1：如何選擇適合芯片測試的試驗箱？
A：需滿足溫度范圍-55℃~+150℃，轉(zhuǎn)換時間≤5秒，試樣架支持小尺寸PCB板（如100mm×100mm），優(yōu)先選擇伺服控制系統(tǒng)。

Q2：宜興廠商是否支持非標(biāo)定制？
A：隆安實驗等廠商可定制特殊容積（如800L）、附加濕度控制（5%~95%RH），但需增加15%~20%成本。

Q3：低價設(shè)備可能存在哪些隱患？
A：使用劣質(zhì)壓縮機導(dǎo)致頻繁故障、溫度均勻性差（＞±3℃）、缺乏安全聯(lián)鎖設(shè)計，易引發(fā)試樣損壞或人員傷害。

外部參考

• 中國電器科學(xué)研究院《環(huán)境試驗設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》欄目
• SAE國際汽車工程師學(xué)會《AS6081冷熱沖擊測試標(biāo)準(zhǔn)》