

隆安
2025-11-11 13:34:07
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HAST試驗箱是半導體、電子元器件、汽車電子等領域加速高溫高濕老化測試的核心設備,其選型需重點關注溫度/濕度范圍、控制精度、容積及安全聯(lián)鎖設計。用戶需結合測試標準(如JEDEC JESD22-A110)、試樣尺寸及負載量選擇設備,避免因參數(shù)不匹配導致測試失效。
HAST(Highly Accelerated Stress Test)通過高溫(>100℃)、高濕(>85%RH)及偏壓條件,加速材料老化,模擬長期使用環(huán)境。典型失效模式包括:
| 參數(shù) | 說明 | 典型值 |
|---|---|---|
| 溫度范圍 | 測試上限溫度 | 105℃~150℃ |
| 濕度范圍 | 飽和濕度控制 | 85%~100%RH |
| 控制精度 | 溫濕度波動范圍 | ± ℃/±2%RH |
| 采樣率 | 數(shù)據(jù)采集頻率 | 1次/秒 |
| 安全聯(lián)鎖 | 過溫/過濕/超壓保護 | 必備 |
| 階段 | 任務 | 交付物 |
|---|---|---|
| 需求確認 | 明確測試標準、試樣尺寸 | 技術需求書 |
| 技術協(xié)議 | 簽訂參數(shù)、驗收標準、維保條款 | 技術協(xié)議書 |
| 報價 | 對比3家供應商報價 | 報價單及配置清單 |
| FAT/SAT | 工廠驗收/現(xiàn)場安裝驗收 | FAT/SAT測試報告 |
| 計量 | 第三方機構校準 | 校準證書 |
| 維保 | 簽訂年度維保合同 | 維保記錄表 |
| 故障現(xiàn)象 | 可能原因 | 解決方案 |
|---|---|---|
| 溫度波動大 | 加熱管老化 | 更換加熱管 |
| 濕度無法飽和 | 蒸汽發(fā)生器堵塞 | 清洗蒸汽管路 |
| 安全聯(lián)鎖觸發(fā) | 門封不嚴或傳感器故障 | 調(diào)整門封或更換傳感器 |
| 廠商/型號 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積選項 | 控制精度 | 符合標準 | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 隆安LA-HAST-100 | 105℃~150℃ | 85%~100%RH | 100L | ± ℃/±2%RH | JEDEC/IEC | 數(shù)據(jù)記錄、遠程監(jiān)控 |
| ESPEC SH-242 | 120℃~140℃ | 85%~95%RH | 80L | ±1℃/±3%RH | JIS/MIL | 防爆設計 |
| CSZ HAST-600 | 110℃~130℃ | 85%~100%RH | 200L | ± ℃/±1%RH | AEC-Q100 | 自動補水系統(tǒng) |
Q1:HAST試驗箱與普通恒溫恒濕箱的區(qū)別?
A1:HAST試驗箱溫度更高(>100℃)、濕度更飽和(>85%RH),且配備安全聯(lián)鎖設計,適用于加速老化測試;普通恒溫恒濕箱溫度通常≤85℃,濕度≤95%RH,用于常規(guī)環(huán)境模擬。
Q2:如何選擇設備容積?
A2:依據(jù)試樣尺寸計算,例如4寸晶圓單層放置需≥50L,多層疊加需增加容積。建議預留20%空間用于空氣循環(huán)。
Q3:設備價格差異大的原因?
A3:主要受控制精度(如± ℃ vs ±1℃)、材質(不銹鋼內(nèi)膽 vs 鍍鋅板)、安全設計(防爆 vs 普通)影響。
Q4:HAST測試是否需要偏壓?
A4:JEDEC JESD22-A110標準要求對半導體器件施加偏壓(如DC 5V),以模擬實際工作狀態(tài)。
Q5:校準周期如何確定?
A5:依據(jù)ISO 17025標準,建議每12個月校準一次,關鍵參數(shù)(如溫度)可縮短至6個月。
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