1. 導(dǎo)讀

自由降塵試驗箱的校準規(guī)程是確保高溫老化環(huán)境測試數(shù)據(jù)可靠性的核心環(huán)節(jié)，涉及溫度、濕度、降塵速率等關(guān)鍵參數(shù)的動態(tài)校準。用戶需優(yōu)先選擇符合GB/T 標準的設(shè)備，重點關(guān)注控制精度（± ℃）、降塵均勻性（≤10%）及安全聯(lián)鎖功能。通過標準化采購流程與定期計量維護，可規(guī)避設(shè)備失效導(dǎo)致的測試數(shù)據(jù)偏差。

2. 目錄

• 快速答案卡片
• 校準規(guī)程核心要素
  • 試驗?zāi)康呐c典型工況
  • 關(guān)鍵參數(shù)與失效機理
  • 校準標準與條款
• 選型決策流程
• 參數(shù)解釋表
• 選型橫評表
• 采購全流程Checklist
• 校準與維護實操
• 常見故障與解決方案
• FAQ
• 外部參考

3. 快速答案卡片

• 校準周期：每12個月或設(shè)備大修后（依據(jù)JJF 1101-2019）。
• 核心參數(shù)：溫度控制精度± ℃，降塵速率 –5g/m2·h，均勻性≤10%。
• 選型優(yōu)先級：控制方式（伺服>液壓）、安全聯(lián)鎖（急停+超溫報警）、標準兼容性（GB/T 2423+IEC 60068）。
• 價格范圍：基礎(chǔ)型8–15萬元，高精度型20–35萬元（容積與精度決定）。

4. 正文結(jié)構(gòu)

校準規(guī)程核心要素

試驗?zāi)康呐c典型工況

自由降塵試驗箱用于模擬高溫老化環(huán)境（如電子元器件、汽車零部件）在粉塵沉降條件下的性能衰減，典型工況包括：

• 溫度范圍：常溫至+85℃（部分設(shè)備支持+150℃）。
• 濕度范圍：20%–95%RH（可選配加濕模塊）。
• 降塵速率： –5g/m2·h（可調(diào)）。
• 負載能力：試樣架承重≥50kg，試樣尺寸≤1m×1m。

失效機理：

• 溫度超限導(dǎo)致試樣熱變形；
• 降塵不均引發(fā)局部腐蝕；
• 濕度波動加速金屬氧化。

關(guān)鍵參數(shù)與失效機理

校準標準與條款

• GB/T ：規(guī)定降塵速率、溫度均勻性等核心指標。
• IEC 60068-2-68：明確安全聯(lián)鎖與電磁兼容要求。
• JJF 1101-2019：校準周期與方法（如紅外測溫儀校準溫度場）。

選型決策流程

1. 需求確認：明確測試對象（如PCB板需高精度，汽車濾清器需大容積）。
2. 參數(shù)匹配：根據(jù)試樣尺寸選擇容積（推薦容積=試樣體積×3）。
3. 標準兼容：優(yōu)先選擇同時符合GB/T與IEC標準的設(shè)備。
4. 廠商評估：核查計量認證（CMA）與案例庫（如華為、比亞迪合作記錄）。

參數(shù)解釋表

選型橫評表

采購全流程Checklist

1. 需求階段：明確測試標準、試樣尺寸、預(yù)算。
2. 技術(shù)協(xié)議：約定溫度波動度、降塵速率偏差等指標。
3. 報價對比：要求廠商提供CMA計量報告與案例證明。
4. FAT/SAT：工廠驗收測試（溫度均勻性、降塵速率實測）。
5. 安裝調(diào)試：核查接地電阻（≤4Ω）、壓縮空氣壓力（ ）。
6. 計量校準：委托第三方機構(gòu)（如中國計量科學研究院）出具報告。
7. 維保合同：約定備件庫存、響應(yīng)時間（≤48小時）。

校準與維護實操

校準步驟：

1. 使用標準溫度計（如Fluke 9133）校準溫度場。
2. 通過稱重法驗證降塵速率（收集盤質(zhì)量差/時間）。
3. 檢查安全聯(lián)鎖功能（觸發(fā)急停后設(shè)備停機時間≤2秒）。

維護清單：

• 每月清潔降塵噴嘴（防止堵塞）；
• 每季度更換空氣過濾器（壓差＞ 時）；
• 每年更換加熱管（老化導(dǎo)致溫度波動）。

常見故障與解決方案

5. FAQ

Q1：自由降塵試驗箱與鹽霧試驗箱的區(qū)別？
A1：自由降塵試驗箱模擬固態(tài)粉塵沉降，適用于機械磨損測試；鹽霧試驗箱模擬液態(tài)腐蝕，適用于金屬防護評估。兩者不可替代。

Q2：如何驗證設(shè)備降塵均勻性？
A2：在試驗箱內(nèi)均布9個收集盤（3×3網(wǎng)格），運行24小時后稱重，計算最大偏差值（應(yīng)≤10%）。

Q3：伺服控制與液壓控制如何選擇？
A3：伺服控制精度高（± ℃）、響應(yīng)快（≤5秒），適合高精度測試；液壓控制成本低，但精度± ℃，適合基礎(chǔ)老化測試。

Q4：校準報告有效期多久？
A4：依據(jù)JJF 1101-2019，校準報告有效期為12個月，超期使用可能導(dǎo)致數(shù)據(jù)不可信。

Q5：設(shè)備搬遷后需要重新校準嗎？
A5：需要。搬遷可能導(dǎo)致傳感器移位或管路泄漏，必須重新進行FAT測試與計量校準。

6. 外部參考

• 中國計量科學研究院：環(huán)境試驗設(shè)備校準專欄
• SAE International：汽車零部件環(huán)境測試標準庫